Vous êtes confrontés dans votre métier à des problématiques liées aux surfaces et interfaces dans les matériaux : traitements de surface, maîtrise de la propreté de surface, matériaux à propriétés de surface contrôlées, adhésion, collage ...  Cette formation vous permet de vous sensibiliser aux différents aspects de l’analyse de surface, et de maîtriser les informations analytiques accessibles pour la résolution de problèmes concrets.

OBJECTIFS :

• Appréhender l’apport des analyses de surface pour l’étude des propriétés physico-chimiques, morphologiques et mécaniques des surfaces et interfaces dans les matériaux
• Découvrir et comparer les méthodes analytiques les plus récentes pour l’analyse quantitative de surface avec les meilleures résolutions chimique, moléculaire et nanométrique
• Savoir choisir, sur base de leur complémentarité, les techniques les mieux adaptées pour l'étude de vos échantillons et la résolution de vos problèmes.

8 PARTICIPANTS MAXIMUM

La formation comporte des exposés théoriques reprenant les principes physiques des principales techniques proposées par TESCAN ANALYTICS : AFM, XPS, ToF SIMS, TEM, SEM et préparation d’échantillons par FIB et microtomie. Cette partie théorique est accompagnée d’exemples d’applications à des problèmes industriels, et de démonstrations sur les équipements pour illustrer le déroulement des analyses sur des cas concrets : de la préparation des échantillons à l’interprétation des résultats analytiques (possibilité d’analyser vos échantillons, nous contacter en cas d’intérêt).

Les équipements utilisés pour les démonstrations sont des plus récents :

• AFM - BRUKER - ICON
• Dual Beam FIB/SEM - TESCAN
• XPS - KRATOS - NOVA
• ToF SIMS - ION TOF 5 + source clusters argon

INTERVENANTS :

Equipe de TESCAN ANALYTICS constituée d’ingénieurs et de docteurs en chimie et en sciences des matériaux, expérimentés en analyse de surface.