Durée | 3 jours (21h) |
Horaires | 9h - 17h |
Tarif | 3150 € HT * déjeuner inclus |
Modalités d'évaluation des acquis | Quizz |
Public | Techniciens et ingénieurs souhaitant se former aux techniques d’analyse de surfaces/interfaces dans les matériaux |
Pré-requis | BAC+2 ou plus, formation scientifique orientée matériaux |
Vous êtes confrontés dans votre métier à des problématiques liées aux surfaces et interfaces dans les matériaux : traitements de surface, maîtrise de la propreté de surface, matériaux à propriétés de surface contrôlées, adhésion, collage ... Cette formation vous permet de vous sensibiliser aux différents aspects de l’analyse de surface, et de maîtriser les informations analytiques accessibles pour la résolution de problèmes concrets.
Appréhender l’apport des différents types d'analyse pour l’étude des propriétés physico-chimiques, morphologiques et mécaniques des surfaces et interfaces dans les matériaux
Découvrir et comparer les méthodes analytiques pour l’analyse qualitative et quantitative des surfaces
Faire le point sur les développements actuels et futurs de ces méthodes ; du microscopique au nanométrique
La formation comporte des exposés théoriques reprenant les principes physiques des principales techniques proposées par TESCAN ANALYTICS : AFM, XPS, ToF SIMS, TEM, SEM et préparation d’échantillons par FIB et microtomie. Cette partie théorique est accompagnée d’exemples d’applications à des problèmes industriels, et de démonstrations sur les équipements pour illustrer le déroulement des analyses sur des cas concrets : de la préparation des échantillons à l’interprétation des résultats analytiques (possibilité d’analyser vos échantillons, nous contacter en cas d’intérêt).
Les équipements utilisés pour les démonstrations sont des plus récents :
INTRODUCTION AUX ANALYSES DE SURFACES (1 h)
Cours :
• Historique et principe de l’XPS : photoélectrons
• Instrumentation
• Analyse quantitative & chimique
• Applications analytiques
Démonstrations pratiques :
• Analyse quantitative élémentaire et analyse des formes chimiques
Cours :
• Principe du ToF-SIMS : pulvérisation et ionisation
• Instrumentation
• Régime dynamique et statique
• Analyse chimique de surface, profils en profondeur et imagerie
• Applications analytiques
Démonstrations pratiques :
• Analyse moléculaire, imagerie, profils
Cours :
• Prinicpe AFM : forces d’interaction pointe-surface
• Instrumentation
• Modes de fonctionnement : Contact, Tapping (contact intermittent), Peak Force, CAFM, KPFM
Démonstrations pratiques :
• Analyse dans les différents modes
• Interprétation des images
• Visualisation d’artéfacts
Cours :
• Préparation d’échantillons par FIB et Ultramicrotomie
• Principe de la méthode : interactions électron-matière
• SEM (Scanning Electron Microscopy) et analyses X
• TEM (Transmission Electron Microscopy), analyses X et par perte d’énergie des électrons
• Applications analytiques
Démonstrations pratiques :
• Préparation de coupes par FIB
• SEM : observation morphologique
• Analyse chimique par EDX et interprétation des spectres
La formation comporte des exposés théoriques reprenant les principes physiques des principales techniques proposées par BIOPHY RESEARCH : AFM, XPS, ToF SIMS, TEM, SEM et préparation d’échantillons par FIB et microtomie. Cette partie théorique est accompagnée d’exemples d’applications à des problèmes industriels, et de démonstrations sur les équipements pour illustrer le déroulement des analyses sur des cas concrets : de la préparation des échantillons à l’interprétation des résultats analytiques (possibilité d’analyser vos échantillons, nous contacter en cas d’intérêt).
Les équipements utilisés pour les démonstrations sont des plus récents :
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